Inicio > Term: סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
מבוסס על קרן אלקטרונים מיקרוסקופ המשמש כדי לבדוק, בתמונה שלושה מסך תלת-מימדיים, מבנה פני השטח ולכן מוכן.
- Parte del discurso: noun
- Industria/ámbito: Biotecnología
- Categoría: Genetic engineering
- Organization: FAO
0
Creador
- Sarah Cohen
-
(V.I.P) 33583 puntos - 100% positive feedback
(Haifa, Israel)
