Inicio >  Term: Scanning electron mikroskooppi (SEM)
Scanning electron mikroskooppi (SEM)

Electron beam perustuva mikroskooppi tutkia kolmen kolmiulotteinen näyttökuvan, valmistetut yksilöitä Metallikeraaminen käytetään.

0 0

Creador

  • D.Oikarinen
  • (Helsinki, Finland)

  •  (V.I.P) 19899 puntos
  • 100% positive feedback
© 2024 CSOFT International, Ltd.